[其他资源] 【论文】OpenMP与环形缓冲技术在TFT_LCD缺陷检测中的应用

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发表于 2021-1-7 11:39 |只看该作者 |倒序浏览

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针对TFT-LCD玻璃基板缺陷检测过程中数据流量大、数据处理流程复杂、数据输入输出时序性要求高等问题,文中提出了一种使用环形缓冲和Open MP的多线程并行处理方法。该方法利用Open MP技术来实现复杂的多核并行处理,以达到充分利用多核处理器资源来提高数据处理能力的目的。同时,该方法在缺陷数据输入、数据处理、数据输出等流程中,利用环形缓冲技术进行数据分流,从而实现多线程并行处理与实时稳定输出。将该方法应用到实时缺陷检测系统中,使检测系统的处理速度提高了约2～3倍,数据输出时间误差降低了70%～80%,这充分表明了该方法的实用性和有效性。